콘텐츠 본문
            
            	
				
					논문
				
				
					
						
							
								국내
							
						
							
						
						     
				
				
					
						
						    
						
						    
						
						    
						    	국내전문학술지(KCI급)
						    
						
						    
						
						    
						
					
				
            
          
	
          
            
              거리 편차 데이터 및 2D 이미지에 대한 Convolution Filter 및 앙상블 기반 딥러닝 분석을 통한 제품 파지 품질 검사 시스템 개발
            
          
          
          
           
          - 2023
 - 유나현, 이예본, 백수정
 
            
            	
				
					논문
				
				
					
						
							
						
							
								해외
							
						
						     
				
				
					
						
						    
						    	국제전문학술지(SCI급)
						    
						
						    
						
						    
						
						    
						
						    
						
					
				
            
          
	
          
            
              Empirical sensitivity analysis of discretization parameters for fault pattern extraction from multivariate time series data
            
          
          
          
           
          - 2017
 - S. Baek, D.-Y Kim
 
            
            	
				
					논문
				
				
					
						
							
						
							
								해외
							
						
						     
				
				
					
						
						    
						    	국제전문학술지(SCI급)
						    
						
						    
						
						    
						
						    
						
						    
						
					
				
            
          
	
          
            
              Early degradation detection of the insulation resistance of MLCCs by the pattern analysis of capacitance and dissipation signals
            
          
          
          
           
          - 2018
 - S. Baek, D. Kwon, D.-Y Kim
 
            
            	
				
					논문
				
				
					
						
							
						
							
								해외
							
						
						     
				
				
					
						
						    
						    	국제전문학술지(SCI급)
						    
						
						    
						
						    
						
						    
						
						    
						
					
				
            
          
	
          
            
              Defect state and pattern analysis using the discretization state vectors
            
          
          
          
           
          - 2018
 - S. Baek, W. Baek, D. Kwon, D.-Y Kim
 
            
            	
				
					논문
				
				
					
						
							
						
							
								해외
							
						
						     
				
				
					
						
						    
						    	국제전문학술지(SCI급)
						    
						
						    
						
						    
						
						    
						
						    
						
					
				
            
          
	
          
            
              Abrupt variance and discernibility analyses of multi-sensor signals for fault pattern extraction
            
          
          
          
           
          - 2019
 - S. Baek, D.-Y Kim
 
            
            	
				
					논문
				
				
					
						
							
						
							
								해외
							
						
						     
				
				
					
						
						    
						    	국제전문학술지(SCI급)
						    
						
						    
						
						    
						
						    
						
						    
						
					
				
            
          
	
          
            
              Fault prediction via symptom pattern extraction using the discretized state vectors of multi-sensor signals
            
          
          
          
           
          - 2019
 - S. Baek, D.-Y Kim
 
            
            	
				
					논문
				
				
					
						
							
						
							
								해외
							
						
						     
				
				
					
						
						    
						    	국제전문학술지(SCI급)
						    
						
						    
						
						    
						
						    
						
						    
						
					
				
            
          
	
          
            
              Estimating system state through similarity analysis of signal patterns
            
          
          
          
           
          - 2020
 - K. Namgung, H. Yoon, S. Baek, D.-Y. Kim
 
            
            	
				
					논문
				
				
					
						
							
						
							
								해외
							
						
						     
				
				
					
						
						    
						    	국제전문학술지(SCI급)
						    
						
						    
						
						    
						
						    
						
						    
						
					
				
            
          
	
          
            
              A modular factory testbed for the rapid reconfiguration of manufacturing systems
            
          
          
          
           
          - 2020
 - D.-Y. Kim, J.-W. Park, S. Baek, K-B. Park, H.-R. Kim, J.-I. Park, H.-S. Kim, B.-B. Kim, H.-Y. Oh, K. Namgung, W. Baek
 
            
          
