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논문 해외 국제전문학술지(SCI급) Unsupervised fault detection in automated sequential manufacturing processes through image analysis and convolutional LSTM‑based next visual status prediction
- 학술지 구분 국제전문학술지(SCI급)
- 게재년월 2024
- 저자명 N. H. Yu, S. Baek
- 학술지명 The International Journal of Advanced Manufacturing Technology
- 발행국가 해외
- 논문언어 외국어
