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논문 해외 국제전문학술지(SCI급) Empirical sensitivity analysis of discretization parameters for fault pattern extraction from multivariate time series data
- 학술지 구분 국제전문학술지(SCI급)
- 게재년월 2017
- 저자명 S. Baek, D.-Y Kim
- 학술지명 IEEE Transactions on Cybernetics
- 발행국가 해외
- 논문언어 외국어
