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논문 해외 국제전문학술지(SCI급) Defect state and pattern analysis using the discretization state vectors

  • 학술지 구분 국제전문학술지(SCI급)
  • 게재년월 2018
  • 저자명 S. Baek, W. Baek, D. Kwon, D.-Y Kim
  • 학술지명 Journal of Mechanical Science and Technology
  • 발행국가 해외
  • 논문언어 외국어

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