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논문 해외 국제전문학술지(SCI급) Fault prediction via symptom pattern extraction using the discretized state vectors of multi-sensor signals
- 학술지 구분 국제전문학술지(SCI급)
- 게재년월 2019
- 저자명 S. Baek, D.-Y Kim
- 학술지명 IEEE Transactions on Industrial informatics
- 발행국가 해외
- 논문언어 외국어
